標準編號:	GB/T 17723-1999
中文名稱:	黃金制品鍍層成分的 X 射線能譜測量方法
英文名稱:	Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
中標分類:	N33    電子光學與其他物理光學儀器
行業(yè)分類:	GB    國家標準
ICS分類:	37.020 37.020    光學設備 37.020
發(fā)布機構:	國家質量技術監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1999-04-01
實施日期:	1999-1-2
標準狀態(tài):	superseded
被新標準替代:	GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
被替代日期:	2009-5-1
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	6000 字
翻譯價格(元):	700.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標準規(guī)定了應用掃描電鏡X射線能譜儀（包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀）對鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測量方法。本標準適用于表面鍍金及金合金，其鍍層厚度為0.2μm以上，3μm以下范圍內的成分測量(不包括基體和金鍍層材料相近的鍍層成分的測量)。