標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 16594-2008
中文名稱:	微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
英文名稱:	General rules for measurement of length in micron scale by SEM
中標(biāo)分類:	N53    電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器
行業(yè)分類:	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	71.040.99 71.040.99    有關(guān)化學(xué)分析方 71.040.99
發(fā)布機(jī)構(gòu):	中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:	2008-9-18
實(shí)施日期:	2009-5-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	valid
替代舊標(biāo)準(zhǔn):	GB/T 16594-1996 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	16000 字
翻譯價(jià)格(元):	1440.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 16594-1996《微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法的通用原則。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 16594-1996相比主要變化如下：
———將“測(cè)量方法”改為“測(cè)量方法通則”；
———將“誤差分析”改為“不確定度評(píng)定”；
———增加樣品變形產(chǎn)生的不確定度評(píng)定；
———改用實(shí)驗(yàn)方法獲取圖像測(cè)量的瞄準(zhǔn)不確定度量值；
———增加“被測(cè)長(zhǎng)度方向的調(diào)整”附錄。