標(biāo)準(zhǔn)編號:	GB/T 14031-1992
中文名稱:	半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理
英文名稱:	principles of measruing methods of analogue phase - Loop for semiconductor integrated circuits
中標(biāo)分類:	L55    微電路綜合
行業(yè)分類:	GB    國家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	31.200 31.200    集成電路、微電子學(xué) 31.200
發(fā)布機(jī)構(gòu):	中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:	1992-1-2
實(shí)施日期:	1993-8-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	valid
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	14000 字
翻譯價(jià)格(元):	1090.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)電參數(shù)測試方法的基本原理。模擬鎖相環(huán)與數(shù)字電路相同的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測試可參照GB3439《半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》。