標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 12636-1990
中文名稱:	微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線 測(cè)試方法
英文名稱:	Stripline test method for complex permittivity of microwave dielectric substrates
中標(biāo)分類:	L04    基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
行業(yè)分類:	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	29.040.20 29.040.20    絕緣氣體 29.040.20
發(fā)布機(jī)構(gòu):	國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1990-1-2
實(shí)施日期:	1991-10-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	valid
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	10000 字
翻譯價(jià)格(元):	780.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)的帶狀線測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)試各種基片（如塑料、復(fù)合材料、陶瓷、硅酸鹽和其他單晶體材料等）在微波頻率下的復(fù)介電常數(shù)。