標(biāo)準(zhǔn)編號:	GB 7667-1996
中文名稱:	電子顯微鏡X射線泄漏劑量
英文名稱:	The dose of X-rays leakage from electron microscope
中標(biāo)分類:	N33    電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
行業(yè)分類:	GB    國家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	37.020 37.020    光學(xué)設(shè)備 37.020
發(fā)布機構(gòu):	國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1996-08-13
實施日期:	1996-12-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
被替代日期:	2004-5-1
作廢日期:	2004-05-01
替代舊標(biāo)準(zhǔn):	GB 7667-1987 電子顯微鏡X射線泄漏劑量規(guī)定
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	2000 字
翻譯價格(元):	300.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子顯微鏡（以下簡稱電鏡）X射線泄漏劑量、試驗方法及檢驗規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透射、掃描、反射、透射掃描和電子探針等不同類型的電鏡。